特許
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- 発明の名称：配向分子質量分析法
発明者： 大村英樹
出願番号：特願2004-157488
登録番号：特許第4423388号
出願日 2004/05/27
登録日 2009/12/18 - 2
- 発明の名称：位相安定化光学装置
発明者： 大村英樹
出願番号：特願2008-027731
登録番号：特許第5273517号
出願日：2008/02/07
登録日：2013/05/24 - 3
- 発明の名称：グラフェン膜の欠陥修復方法及びグラフェン膜の透過率測定装置
発明者：沖川侑揮, 石原正統, 大村英樹, 長谷川雅考
出願番号：特願2013-122187
登録番号：特許第6176711号
出願日：2013/06/10
登録日：2017/07/21 - 4
- 発明の名称：レーザー光フーリエ合成法及び装置
発明者： 大村英樹, 齋藤直昭
出願番号：特願2013-196982
登録番号：特許第6176661号
出願日：2013/09/24
登録日：2017/07/21