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List of patents (in Japan) |
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| 日本における取得済み特許リスト |
| 1. |
特許第2997772号 |
電場による摩擦力のアクティブ制御方法及び装置 |
平成１１年１１月５日 |
| 2. |
特許第3044225号 |
光反射方式角度検出計の感度またはダイナミックレンジの制御方法 |
平成１２年３月１７日 |
| 3. |
特許第3306657号 |
角度補正方法 |
平成１４年５月１７日 |
| 4. |
特許第3686940号 |
ナノワイヤーの応力測定方法及び装置 |
平成１７年６月１７日 |
| 5. |
特許第4009714号 |
走査型電磁場顕微鏡および制御方法 |
平成１９年９月１４日 |
| 6. |
特許第4143722号 |
原子間力/水平力顕微鏡の感度校正方法 |
平成２０年６月２７日 |
| 7. |
特許第4182211号 |
光導波路を用いた光反射式計測装置 |
平成２０年９月１２日 |
| 8. |
特許第4328855号 |
ナノワイヤー又はナノドット及びその製造方法 |
平成２１年６月２６日 |
| 9. |
特許第4370421号 |
マイクロスケール変位検出装置の製造方法 |
平成２１年９月１１日 |
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| 日本における公開中及び出願済みの特許リスト |
| 1. |
特開2005-069806 |
微小変位検出装置 |
平成１５年８月２２日 |
| 2. |
特開2004-243500 |
酸化珪素材料の物理的加工方法及び接合方法 |
平成１６年９月２日 |
| 3. |
特開2005-103723 |
金属ナノワイヤーの単結晶化方法及び装置 |
平成１７年４月２１日 |
| 4. |
特願2011-015974 |
プローブ顕微鏡 |
平成２３年１月２８日 |
| 5. |
特願2012-045123 |
原子間力顕微鏡により力の三次元ベクトルを検出する方法及び力の三次元ベクトルを検出する原子間力顕微鏡 |
平成２４年３月１日 |
| 6. |
特願2012-133017 |
プローブ顕微鏡 |
平成２４年６月１２日 |
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