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未記載の装置も多数あり。利用希望等あればお気軽にお問い合わせください。 
電気炉
・ボックス型高温電気炉 （大気、1700℃まで）
・昇降式高温電気炉 （大気、1600℃まで）
・縦型雰囲気炉 （真空、H2/Ar、N2、Ar、O2雰囲気、1600℃まで）
・ボックス型雰囲気炉 （真空、H2/Ar、N2、Ar、O2雰囲気、1700℃まで）
・熱処理用小型電気炉 （大気、1100℃まで）
・雰囲気制御熱処理炉 （真空、H2/Ar、N2、Ar、O2雰囲気、1000℃まで）
・ファイバー引き上げ装置 (自作)
・真空ホットプレス
1800℃まで、真空・各種雰囲気
・プラズマ放電焼結装置（SPS）
・イメージ炉
・ツインローラー急冷装置
・冷間静水間等方プレス（CIP）
・ボールミル
・3Dボールミル
・遊星ボールミル
・ビーズミル
・スプレードライヤー
・自転公転ミキサー
・スパッタ装置
その他、自動切断機、研磨機、自動乳鉢、遠心分離機など
・ナノインデンター（iMicro, KLA inc.)
連続剛性試験 （CSR、CSM） 付き
微小機械特性2Dマッピング機能付き
ナノスクラッチ試験
・ロードセル式ビッカース試験機 （100 gf-50 kgf）
ビッカース硬度の自動フォーカス・読取機能付
・マイクロビッカース試験機
ビッカースの他、ヌープ圧子、キューブコーナー圧子
・自由共振式ヤング率、剛性率、内部摩擦計測装置
・万能試験機
・アップコンバージョン計測装置 （自作）
バルクのアップコンバージョン計測可能。1540 nm、980 nmなど各種赤外励起光源取り付け可能。
・顕微アップコンバージョン計測装置 （自作）
顕微でアップコンバージョン計測可能。1540 nm、980 nmなど各種赤外励起光源取り付け可能。
・蛍光寿命計測 （Fluorolog, Horiba）
nano LED取付によりnsの蛍光寿命計測も可能（紫外から赤外まで各種波長所有））
冷凍機（室温～4K）の取り付けにより低温測定も可能
Si検出器による可視域測定だけでなく、InGaAs検出器により～1650nmまで計測可能
・赤外蛍光分光装置 （自作）
800～2500nmの範囲で蛍光スペクトルの測定。
・蛍光分光器 (FL-7100, Hitachi)
紫外可視域（220-800 nm）の蛍光―励起スペクトル計測や寿命測定に使用。100μs以上の蛍光寿命の場合はこちらを使用。
・真空紫外励起蛍光分光装置
真空紫外励起（～130 nm）での蛍光計測。
・量子効率測定 （大塚電子）
積分球による内部量子効率、外部量子効率の計測。
・分光光度計
直線透過、拡散反射、拡散透過での計測
・屈折率計
アッベ屈折率計、プリズムカプラ―（4波長）
・Raman分光装置
・FT-IR
その他、ヒートステージ、各種レーザーやランプ光源、分光器、光学素子等所有し適宜組み立てています。
・原子間力顕微鏡 (AFM)
・SEM EDSユニット付き
・レーザー顕微鏡
・デジタルマイクロスコープ
・顕微複屈折イメージング顕微鏡
・蛍光顕微鏡
顕微鏡下でのマイクロプローブによる作業や、ヒートステージ下 (室温～1500℃) での観察も可能。
・示差熱分析装置（TG-DTA）
・熱膨張計（TMA）
・広域粘度計
貫入、平行平板、回転の組み合わせにより広範囲の粘度計測
・密度計（アルキメデス法）
・粉末X線回折装置
加熱ユニット付き（雰囲気制御可能、～1500℃）
・比表面積・細孔径評価装置
・粒度分布計測装置
・ワークステーション
有限要素法（COMSOL）、分子動力学シミュレーション （LAMMPS）、第一原理計算 (Quantum Espresso)、逆モンテカルロシミュレーション （RMC++） など
・高輝度エックス線施設 SPring-8
エックス線全散乱、XAFSなど。非晶質の構造解析や局所構造の解析に利用。
・透過電子顕微鏡
EELS, EDS付き収差補正TEM, STEM
・FIB
TEMサンプルの作製に利用
・FE-SEM等