粉末X線測定手順        

粉末X線測定手順(in KEK-PF BL18C)


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PF課題終了に伴い、実験に通っていませんので、
情報が古い箇所が増えてきていると思われます。ご注意下さい!


2001.03.02



マイナーチェンジは随時行っています。 更新履歴


  1. 常温高圧粉末X線回折実験(概要)
       
    1. 実験に際しての手続き・準備

    2. X線モノクロメーターの調整

    3. ルビ-蛍光測定手順(室温実験の時)
        ・Uniphase社製 空冷Arレーザーの使用法
        ・ルビー蛍光測定装置の使用法

    4. PIPを用いたIP-試料距離の算出法(標準試料法)



  2. 低温高圧粉末X線回折実験(概要)
       
    1. 実験に際しての手続き・準備
        ・三方コック
        ・ダイヤフラムの取り付け
        ・実験終了時の手続き・作業

    2. X線モノクロメーターの調整

    3. 低温・高圧粉末X線回折実験手順

      1. ダブルカセット法によるIP-試料距離の算出の注意点
          ・IP読み取りピクセルサイズの決定法
          ・bas2000bピクセルサイズの値

      2. クライオスタットのステージへの取り付け

      3. クライオスタットの真空引き

      4. 冷凍機の始動

      5. ルビ-蛍光測定手順(低温実験の時)
          ・ルビ-蛍光測定システム
          ・ネオンランプのスペクトル
          ・波長校正用ネオンランプ

      6. 温度コントローラLTC-20の使用手順
          ・クライオスタットのヒーター部分
          ・センサーのリード線とコネクタpinの対応

    4. その他の気づいたことや細々としたこと
        ・金鉄-クロメル熱電対



  3. データ保存の手順
      ・bas2000cからのftp手順
    2003.5 KEKのネットワーク構成変更に伴い、bas2000cと
        高圧準備室のコンピュータ間のftpができなくなったそうです。
        現在のところ、MOでデータを移しているようです。





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