【補足】

　吸収係数aは、It = I0e^-abl、もしくはIt = I010^-ablで定義される。It, I0は、透過光、参照光強度、bは、ガスならば圧力、固体、液体ならば濃度を示す。圧力(torrやatm)で与えられた場合、aはk(圧力^-1・cm^-1)、濃度(mol/dm³)で与えられた場合はε(dm³・mol^-1・cm^-1)となる。ｋを用いた場合は、温度を決めなくてはならない。

　モル吸光係数を吸収断面積に直す時、底がeであれば

σ(cm²・molec^-1) = 4.06×10^-20 k(atm^-1・cm^-1 at 293K) ･･････　�@

ε(dm³・mol^-1・cm^-1) = 2.6×10²⁰σ　･･････････････････････　�A

となる。

　まれに、kやεの代わりに、σ = k (atm^-1・cm^-1 at 0℃)/n0 = k/2.687×10¹⁹cm²・molec^-1で定義される吸収断面積が使われることがある。ここでn0は、Loshmidt numberと呼ばれる定数である。

　振動子強度(f)と吸収断面積σ(cm²・molec^-1)の関係は、

σ = a/N = 7.75×10^-18(n² + 2)²・f ・n^-1・W^-1 ･･････････････　�B

である。ここで、n; 屈折率、W; 吸収帯の半値幅(eV)、N; 吸収の原因となるものの濃度(molec/cm³)で、振動子強度には単位がない。光吸収スペクトルとESR等の手法によりその吸収を与える欠陥種の濃度がわかれば、振動子強度を求めることができる。また、Mb(megabarns)という単位も良く用いられるが、1Mb = 10^-18cm²で定義される。吸収帯とその吸収帯の励起による発光の寿命(τ)がわかっている場合の振動子強度(f)と吸収断面積σ(cm²・mol^-1)の関係は、

σ = (πe²/mc)Nf =10⁹ f/4　･･･････････････････････････････　�C

fτ = 1.5λ0² ･････････････････････････････････････････　�D

の関係がある。ここでλ0²は吸収波長(cm)である。具体例を紹介しよう。SiOガス分子の吸収帯は242nm、発光寿命τは25nsである。従って吸収断面積σは、

σ = 1.5×(250×10^-7)²/(25×10^-9×4×10^-9)

= 10⁷cm²/mol = 1.7× 10^-17cm²/molecules 　･･････････････････ �E

となる。

　近赤外〜可視〜紫外吸収の分光器は、洗練された市販品があり、特に測定に困難なことはない。ユニークな商品として、日本分光から微弱吸収測定装置が発売されている。真空紫外の分光器としては、MacPherson, Prinston、日本分光などから分光器が発売されている。紫外域の分光器に比べると使い勝手の点で相当に問題があるが、この10年ほどで、飛躍的に良くなっている。光源としては、MgF2, CaF2等を窓材とする重水素ランプが用いられているため、120nmより長波長での測定が可能である。さらに短波長領域の測定の光源としては、希ガスの共鳴線などがあるが、輝線であるため扱いにくい。従って、シンクロトロン軌道放射光(SR光)が最も優れている。

　シリカガラスの洗浄には、アセトン洗浄の後アルコール洗浄を行う。他にトルエンを用いると良いというデータもある。アセトンを最後の洗浄に用いると、汚れが表面に残ってしまう。