粉末Ｘ線測定手順 　　　 　　　

粉末Ｘ線測定手順（in KEK-PF BL18C）


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PF課題終了に伴い、実験に通っていませんので、
情報が古い箇所が増えてきていると思われます。ご注意下さい！


2001.03.02



マイナーチェンジは随時行っています。 更新履歴


  1. 常温高圧粉末Ｘ線回折実験（概要）
    　　　
    1. 実験に際しての手続き・準備

    2. Ｘ線モノクロメーターの調整

    3. ルビ-蛍光測定手順（室温実験の時）
      　　・Uniphase社製 空冷Arレーザーの使用法
      　　・ルビー蛍光測定装置の使用法

    4. PIPを用いたIP-試料距離の算出法（標準試料法）



  2. 低温高圧粉末Ｘ線回折実験（概要）
    　　　
    1. 実験に際しての手続き・準備
      　　・三方コック
      　　・ダイヤフラムの取り付け
      　　・実験終了時の手続き・作業

    2. Ｘ線モノクロメーターの調整

    3. 低温・高圧粉末Ｘ線回折実験手順

      1. ダブルカセット法によるIP-試料距離の算出の注意点
        　　・IP読み取りピクセルサイズの決定法
        　　・bas2000bピクセルサイズの値

      2. クライオスタットのステージへの取り付け

      3. クライオスタットの真空引き

      4. 冷凍機の始動

      5. ルビ-蛍光測定手順（低温実験の時）
        　　・ルビ-蛍光測定システム
        　　・ネオンランプのスペクトル
        　　・波長校正用ネオンランプ

      6. 温度コントローラLTC-20の使用手順
        　　・クライオスタットのヒーター部分
        　　・センサーのリード線とコネクタpinの対応

    4. その他の気づいたことや細々としたこと
      　　・金鉄-クロメル熱電対



  3. データ保存の手順
    　　・bas2000cからのftp手順
    2003.5　KEKのネットワーク構成変更に伴い、bas2000cと
    　　　　高圧準備室のコンピュータ間のftpができなくなったそうです。
    　　　　現在のところ、MOでデータを移しているようです。



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